3-316-100 OURSTEX170

● X선관에서 일차X선을 시료에 비춰서 발생하는 형광X선을 반도체 검출기로 측정함으로써 비파괴로 원소의정성, 정량분석을 행할 에너지 분산형 형광X선 분석장치입니다.

● 액체 질소와 가스, 냉각수 등을 사용하지않는 SDD 검출기 탑재 타입입니다. 과도한 기능을 생략하고, 소형, 경량으로 휴대가 간편합니다.

● 토양 분석, 귀금속 품위 분석, 경 원소 분석, 수용액 분석, 불순물 분석 등 폭넓게 할 수 있습니다.

● 고체(판상)면 그대로, 액체, 분체인 경우 전용시료 홀더에 샘플을 넣는 것만으로 측정 할 수 있습니다.

● 본 제품의 도입 · 구입에 관해서는 사전에 설치하는 지역의 노동 기준 감독서에 신고가 필요합니다.

[옵션]

3-316-101 시료홀더 필름 (시료홀더용 필름, 시료부 창문용 필름 100개입)

[사양]

측정원리	에너지분산형 형광X선 분석법
측정대상	고체,분체,액체
측정원소	Na~U(Na~Ar:진공펌프사용시만)
고정필터	1차필터기구
시료실 형태	165φ×60㎜ (분위기 : 대기)
X선정규출력	50kV 0.2mA (최대)
검출기	실리콘 드리프트 검출기
계수회로	디지털 시그널 프로세서
사용환경	온도 : 5 ~ 27 ℃ 습도 : 20 ~ 75 % (결로없음)
전원	AC100V 50/60Hz (D종 설치)
크기	312 × 279.5 × 180㎜ 약9㎏
부속	진공 펌프 CMOS 카메라 FP 법 소프트 노트북 케이스

※ 진공 펌프는 포함되어 있지 않습니다. 별도 준비해주십시오.

※ 설치, 설치, 분석지도 등은 별도 비용이 필요합니다. 자세한 내용은 별도 문의 바랍니다.